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材料的介電常數(shù)測試方法阻抗分析儀6632

發(fā)布者：揚州市拓騰電氣有限公司發(fā)布時間：2022/10/13

介電常數(shù)測試儀由阻抗分析儀、測試裝置，標準介質(zhì)樣品組成，能對各種薄膜（10μm-200μm）,板材及液態(tài)絕緣材料進行高低頻介電常數(shù)(ε)和介質(zhì)損耗(D) 的測試。它符合國標GB/T 1409-2006,美標ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。

高速5G需要低介電損耗的材料

高速5G通信時代來臨.具備低延遲.高速傳輸?shù)耐ㄓ嵀h(huán)境下. 結(jié)合AI人工智慧發(fā)展更多高速串流的應用.像是智慧零售賣場.智慧制造工廠、汽車自動駕駛.這樣的高速信號傳輸非常倚賴高效能的天線進行收發(fā).并且透過低介電損耗特性傳達介質(zhì)。

線路板、電子元器件跟.上5G要求各大廠開始開發(fā)低介電損耗之材料

5G要求下除了建制完善的基地臺.設(shè)置網(wǎng)域與硬體設(shè)施等基礎(chǔ)建設(shè)之外。回歸信號傳輸最根本的基底是如何提升終端通信產(chǎn)品自身內(nèi)部的信號傳輸效能。在大量的數(shù)據(jù)傳輸環(huán)境下.傳遞速率要求越來越快，而透過介質(zhì)進行信號的傳遞.此時傳輸排線就是擔當重要的介質(zhì)角色.因此成為5G通信下保持數(shù)據(jù)傳輸效能的重要組件。

傳輸排線-般為具備可彎折的柔性線路板FPC排線以及扁平式軟排線FFC制成.影響傳輸信號的重要關(guān)鍵就在銅箔基板結(jié)構(gòu)內(nèi)的絕緣承接材與絕緣純膠.兩者的介電損耗都會被要求越低越好.以4G通信大部份都采用Dk落在3.5-5.0. Df大于0.01的高分子樹脂材料。這種介電損耗與吸濕率非常高，無法滿足5G高速通信的材料要求。因此許多材料大廠逐漸往低介電損耗的產(chǎn)品發(fā)展。

什么是介電常數(shù)

介電常數(shù)又稱之介質(zhì)常數(shù)或是電容率.是一種表示絕緣能力特性的一個系數(shù)，以字母ε表示，

單位為法/米.介電常數(shù)可以說是在電的位移和電場強度之間存在的比例常量.這個常量在

一個真空中8.85x 10的-12次方法拉第1米(F/m)。在實際的工程應用中.介電常數(shù)時常以【相對介電常數(shù)】的方式來表達，而不是絕對值，

相對介電常數(shù)εr的計算公式 εr=Cx/ C0

測量相對介電常數(shù)的技術(shù)原理:

利用靜電場方式進行測量

1在其兩塊極板之間為真空的時候測試電容器的電容CO

2再利用同樣的電容及板間距離，但在極板間加入電介質(zhì)以后，測得電容Cx值

3套用計算公式得到相對介電常數(shù)εr= Cx/ CO

在標準大氣下不含二氧化碳的干燥空氣之相對電容率為Er= 1.00053

因此在此之下

用此方式得到空氣中的電容Ca來替代CO，進行測量相對介電常數(shù)εr也有足夠的準確度

MICROTEST 6632/6630

內(nèi)置介電常數(shù)測試與掃圖功能

MICROTEST LCR Meter 6630與阻抗分析儀6632內(nèi)置介電常數(shù)測試功能.省去人工試算的程序.直接在機上選擇εr參數(shù)進行測量與掃圖分析.

6632與6630搭載專用的介電常數(shù)測試治具.因應各種不同尺寸及軟硬材質(zhì)或薄膜鍍層的

材料.提供對應尺寸的電極頭更換使用.治具連接至儀器6632/6630的BNC接口. 以減少接線造成的干擾誤差.在治具，上有設(shè)計精確的千分表.可直接測量材料的厚度。

MICROTEST 6632介電神器讓PCB Layout更有效率

-般線路板會采用不同材質(zhì).如多層板應用組合或是上下鍍層薄膜.這些材質(zhì)的高分子材料它的介電特性都不同，當應用在不同頻率時.介電常數(shù)都不同.往往造成PCB Layout人員在布局線路圖時.因不知道其材質(zhì)的介電常數(shù)導致規(guī)劃不良的L ayout設(shè)計，利用MICROTEST 6632/6630神器就能快速掌握板材的介電特性。

儀器選型	測試頻率	治具選型
阻抗分析儀6632	10Hz-1MHz 10Hz-3MHz 10Hz-5MHz 10Hz-10MHz 10Hz-20MHz 10Hz-30MHz 10Hz-50MHz	介電常數(shù)治具（固態(tài)/薄膜材料）

LCR電橋測試儀6630		介電常數(shù)治具（電化學/液態(tài)材料）

技術(shù)參數(shù)

測量參數(shù)	顯示范圍
\|Z\| 阻抗	0.000mΩ-9999.99MΩ
R, X 串并聯(lián)電阻、電抗	±0.000mΩ-9999.99MΩ
\|Y\| 導納	0.00000μS-999.999kS
G, B 電導、電納	±0.00000μS-999.999kS
θRAD	±0.00000-3.14159
θDEG	±0.000 -180.000
Cs, Cp	±0.00000pF-9999.99F
Ls, Lp	±0.00nH-9999.99kH
D 損耗因子	0.00000-9999.99
Q 品質(zhì)因子	0.00-9999.99
Δ	±0.00%-9999.99%
Rdc	0.00mΩ-99.9999MΩ
εr' εr'' 相對介電常數(shù)	0-100000
μr' μr'' 相對電磁率	0-100000

測量頻率點數(shù)	可程序
頻率最小分辨率	100mHz, 6位數(shù)頻率輸入 7ppm ±0.01% (頻率輸出精準度)
基本精確度	±0.08% (典型值±0.05%)
AC測試信號位準	測試信號電壓范圍 10mV-2Vrms
	電壓最小分辨率 1mV
	準確度 ALC OFF：10% * 設(shè)定電壓 ±2mV ALC ON：6% * 設(shè)定電壓 ±2mV
	測試信號電流范圍 200μA-20mArms
	電流最小分辨率 10μA
	準確度 ALC OFF：10% * 設(shè)定電流 ±20μA
DC信號	1V(固定)
輸出阻抗	25Ω、100Ω (可切換)
量測時間	<3mS (最快)
量測模式	數(shù)字電橋模式多步模式
等效電路	串聯(lián)、并聯(lián)
校正	開路、短路、負載
線長補償	0/0.5/1/2m
多步測試	50組，每組15個測試步驟
內(nèi)建直流偏置電壓	-12 to +12V, 0.3% ±1.5mV, 100Hz to 50MHz
BIN分類	9級 (最大)
比較器	ABS、ΔABS、Δ%、OFF
內(nèi)建儲存	100組LCR Meter測試設(shè)定文件、50組多步測試設(shè)定
USB Host 儲存	100組LCR Meter測試設(shè)定文件、50組多步測試設(shè)定
觸發(fā)測試方式	LCR Meter測試設(shè)定文件多步測試設(shè)定文件
界面	自動、手動、RS-232、GPIB、Handler
選購	PC連線軟件
電源需求	電壓 90-264Vac
	頻率 47-63Hz
	低功耗：更大30W
液晶屏幕	7吋TFT, 彩色顯示 (800*480)
操作環(huán)境	溫度：10-40℃、濕度：20-90%RH
外觀尺寸 (WHD)	336x147x340 mm
重量	3.95Kg

Z|(阻抗)、|Y|(導納)、θ(相位角)、X(電抗)、R(串并聯(lián)電阻)、G(電導)、B(電納)、L(電感)、D(損耗因子)、Q(品質(zhì)因子)、DCR(直流電阻) 、C(電容)、 Vdc-Idc(直流電壓電流)、ESR(等效串聯(lián)電阻) 、ε (相對介電系數(shù))、μr (相對導磁系數(shù))