SBJDCS-D介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀裝置

    SBJDCS-D 介電常數(shù)和介質(zhì)損耗測(cè)試儀裝置由介電常數(shù)測(cè)試儀、測(cè)試裝置，電感器及標(biāo)準(zhǔn)介質(zhì)樣品組成，能對(duì)絕緣材料進(jìn)行頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)的測(cè)試。它符合國(guó)標(biāo)GB/T 1409-2006,美標(biāo)ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。

   SBJDCS-D介電常數(shù)和介質(zhì)損耗測(cè)試儀工作頻率范圍是100kHz～100MHz,它能完成工作頻率內(nèi)材料的頻介質(zhì)損耗角(tanδ)和介電常數(shù)(ε)變化的測(cè)試。

   本儀器中測(cè)試裝置是由平板電容器組成，平板電容器一般用來夾被測(cè)樣品，配用Q表作為指示儀器。絕緣材料的損耗角正切值是通過被測(cè)樣品放入平板電容器和不放樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數(shù)通過公式計(jì)算得到。使用SBJDCS-2852D或SBJDCS-2853D數(shù)字介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀裝置具有自動(dòng)計(jì)算介電常數(shù)（ε）和介質(zhì)損耗（tanδ）。

1 特點(diǎn)：

◎ 本公司創(chuàng)新的自動(dòng)Q值保持技術(shù)，使測(cè)Q分辨率至0.1Q，使tanδ分辨率至0.00005 。

◎ 能對(duì)固體絕緣材料在100kHz～100MHz介質(zhì)損耗角(tanδ)和介電常數(shù)(ε)變化的測(cè)試。

◎ 調(diào)諧回路殘余電感值低至8nH，保證100MHz的(tanδ)和(ε)的誤差較小。

◎ TFT彩屏菜單式顯示多參數(shù)：介電常數(shù)(ε),介質(zhì)損耗角(tanδ),Q值，測(cè)試頻率，調(diào)諧狀態(tài)和調(diào)諧電容值等。

◎ Q值量程自動(dòng)/手動(dòng)量程控制。

◎ DPLL合成發(fā)生1kHz～70MHz（SBJDCS-2852A/D）,50kHz～160MHz（SBJDCS-2853A/D）測(cè)試信號(hào)。獨(dú)立信號(hào)源輸出口，所以本機(jī)又是一臺(tái)合成信號(hào)源。

◎ 測(cè)試裝置符合國(guó)標(biāo)GB/T 1409-2006,美標(biāo)ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。

2 主要技術(shù)指標(biāo)：

2.1 tanδ和ε性能：

2.1.1 固體絕緣材料測(cè)試頻率100kHz～100MHz的tan δ 和 ε 變化的測(cè)試。

2.1.2 tan δ 和 ε 測(cè)量范圍：

   tan δ：0.1～0.00005，ε：1～50

2.1.3 tan δ 和 ε 測(cè)量精度（1MHz）：

   tan δ：±5%±0.00005，ε：±2%

2.3 介質(zhì)損耗裝置： 

   按測(cè)試頻率要求，需要配置不同量的電感器。例如：在1MHz測(cè)試頻率時(shí)，要配100μH 或250μH 電感器，在50MHz測(cè)試頻率時(shí)，要配0.1μH電感器等。